Determination of the Sb/Si(111) interfacial structure by back-reflection x-ray standing waves and surface extended x-ray-absorption fine structure.
Phys Rev B Condens Matter
; 44(7): 3475-3478, 1991 Aug 15.
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| ID: mdl-9999972
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Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Phys Rev B Condens Matter
Año:
1991
Tipo del documento:
Article