Improvements in the X-ray analytical capabilities of a scanning transmission electron microscope by spherical-aberration correction. | Microsc Microanal;12(6): 515-26, 2006 Dec. | MEDLINE

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Improvements in the X-ray analytical capabilities of a scanning transmission electron microscope by spherical-aberration correction.

Watanabe, M; Ackland, D W; Burrows, A; Kiely, C J; Williams, D B; Krivanek, O L; Dellby, N; Murfitt, M F; Szilagyi, Z.

Affiliation

Watanabe M; Department of Materials Science and Engineering/Center for Advanced Materials and Nanotechnology, Lehigh University, Bethlehem, PA 18015, USA. masashi.watanabe@lehigh.edu

Microsc Microanal ; 12(6): 515-26, 2006 Dec.

Article de En | MEDLINE | ID: mdl-19830944

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Collection: 01-internacional Base de données: MEDLINE Langue: En Journal: Microsc Microanal Année: 2006 Type de document: Article Pays d'affiliation: États-Unis d'Amérique Pays de publication: Royaume-Uni

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