Thickness identification of two-dimensional materials by optical imaging. | Nanotechnology;23(49): 495713, 2012 Dec 14. | MEDLINE

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Thickness identification of two-dimensional materials by optical imaging.

Wang, Ying Ying; Gao, Ren Xi; Ni, Zhen Hua; He, Hui; Guo, Shu Peng; Yang, Huan Ping; Cong, Chun Xiao; Yu, Ting.

Affiliation

Wang YY; Department of Optoelectronic Science, Harbin Institute of Technology at Weihai, Weihai 264209, People's Republic of China.

Nanotechnology ; 23(49): 495713, 2012 Dec 14.

Article de En | MEDLINE | ID: mdl-23154446

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Texte intégral: 1 Collection: 01-internacional Base de données: MEDLINE Sujet principal: Réfractométrie / Test de matériaux / Disulfures / Graphite / Molybdène / Néphélométrie et turbidimétrie Type d'étude: Diagnostic_studies / Prognostic_studies Langue: En Journal: Nanotechnology Année: 2012 Type de document: Article Pays de publication: Royaume-Uni

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Texte intégral: 1 Collection: 01-internacional Base de données: MEDLINE Sujet principal: Réfractométrie / Test de matériaux / Disulfures / Graphite / Molybdène / Néphélométrie et turbidimétrie Type d'étude: Diagnostic_studies / Prognostic_studies Langue: En Journal: Nanotechnology Année: 2012 Type de document: Article Pays de publication: Royaume-Uni