Improved photoluminescence efficiency in UV nanopillar light emitting diode structures by recovery of dry etching damage. | J Nanosci Nanotechnol;13(5): 3645-9, 2013 May. | MEDLINE

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Improved photoluminescence efficiency in UV nanopillar light emitting diode structures by recovery of dry etching damage.

Jeon, Dae-Woo; Jang, Lee-Woon; Jeon, Ju-Won; Park, Jae-Woo; Song, Young Ho; Jeon, Seong-Ran; Ju, Jin-Woo; Baek, Jong Hyeob; Lee, In-Hwan.

Affiliation

Jeon DW; School of Advanced Materials Engineering and Research Center of Advanced Materials Development, Chonbuk National University, Jeonju 561-756, Korea.

J Nanosci Nanotechnol ; 13(5): 3645-9, 2013 May.

Article de En | MEDLINE | ID: mdl-23858920

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Collection: 01-internacional Base de données: MEDLINE Sujet principal: Semiconducteurs / Éclairage / Nanostructures / Mesures de luminescence Langue: En Journal: J Nanosci Nanotechnol Année: 2013 Type de document: Article Pays de publication: États-Unis d'Amérique

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Collection: 01-internacional Base de données: MEDLINE Sujet principal: Semiconducteurs / Éclairage / Nanostructures / Mesures de luminescence Langue: En Journal: J Nanosci Nanotechnol Année: 2013 Type de document: Article Pays de publication: États-Unis d'Amérique