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YSZ thin films with minimized grain boundary resistivity.
Mills, Edmund M; Kleine-Boymann, Matthias; Janek, Juergen; Yang, Hao; Browning, Nigel D; Takamura, Yayoi; Kim, Sangtae.
Affiliation
  • Mills EM; University of California Davis, Department of Chemical Engineering and Materials Science, 3001 Ghausi Hall, Davis California 95616, USA. chmkim@ucdavis.edu.
Phys Chem Chem Phys ; 18(15): 10486-91, 2016 Apr 21.
Article de En | MEDLINE | ID: mdl-27030391
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Texte intégral: 1 Collection: 01-internacional Base de données: MEDLINE Langue: En Journal: Phys Chem Chem Phys Sujet du journal: BIOFISICA / QUIMICA Année: 2016 Type de document: Article Pays d'affiliation: États-Unis d'Amérique
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