Simulations of the effect of an oxide on contact area measurements from conductive atomic force microscopy.
Nanoscale
; 11(3): 1029-1036, 2019 Jan 17.
Article
de En
| MEDLINE
| ID: mdl-30569937
Texte intégral:
1
Collection:
01-internacional
Base de données:
MEDLINE
Langue:
En
Journal:
Nanoscale
Année:
2019
Type de document:
Article
Pays d'affiliation:
États-Unis d'Amérique
Pays de publication:
Royaume-Uni