Analysis of Electron Transparent Beam-Sensitive Samples Using Scanning Electron Microscopy Coupled With Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy.
Microsc Microanal
; 26(3): 373-386, 2020 Jun.
Article
de En
| MEDLINE
| ID: mdl-32475372
Texte intégral:
1
Collection:
01-internacional
Base de données:
MEDLINE
Type d'étude:
Diagnostic_studies
Langue:
En
Journal:
Microsc Microanal
Année:
2020
Type de document:
Article
Pays d'affiliation:
Danemark
Pays de publication:
Royaume-Uni