Evaluation of microchannel plate gain drops caused by high ion fluxes in time-of-flight mass spectrometry: A novel evaluation method using a multi-turn time-of-flight mass spectrometer.

Kobayashi, Hiroshi; Hondo, Toshinobu; Toyoda, Michisato

Kobayashi, Hiroshi; Hondo, Toshinobu; Toyoda, Michisato.

Affiliation

Kobayashi H; Department of Physics, Graduate School of Science, Osaka University, Osaka, 560-0043, Japan.
Hondo T; Hamamatsu Photonics K.K., Iwata, 438-0193, Japan.
Toyoda M; MS-Cheminformatics LLC, Toin, 511-0231, Japan.

J Mass Spectrom ; 56(3): e4706, 2021 Mar.

Article de En | MEDLINE | ID: mdl-33559258

Mots clés

gain saturation; microchannel plate; multi-turn; time-of-flight mass spectrometry

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Texte intégral: 1 Collection: 01-internacional Base de données: MEDLINE Langue: En Journal: J Mass Spectrom Sujet du journal: BIOQUIMICA Année: 2021 Type de document: Article Pays d'affiliation: Japon Pays de publication: Royaume-Uni

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