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Monitoring Electrical Biasing of Pb(Zr0.2Ti0.8)O3 Ferroelectric Thin Films In Situ by DPC-STEM Imaging.
Vogel, Alexander; Sarott, Martin F; Campanini, Marco; Trassin, Morgan; Rossell, Marta D.
Affiliation
  • Vogel A; Electron Microscopy Center, Empa, Swiss Federal Laboratories for Material Science and Technology, 8600 Dübendorf, Switzerland.
  • Sarott MF; Department of Materials, Eidgenössische Technische Hochschule Zürich, 8093 Zürich, Switzerland.
  • Campanini M; Electron Microscopy Center, Empa, Swiss Federal Laboratories for Material Science and Technology, 8600 Dübendorf, Switzerland.
  • Trassin M; Department of Materials, Eidgenössische Technische Hochschule Zürich, 8093 Zürich, Switzerland.
  • Rossell MD; Electron Microscopy Center, Empa, Swiss Federal Laboratories for Material Science and Technology, 8600 Dübendorf, Switzerland.
Materials (Basel) ; 14(16)2021 Aug 23.
Article de En | MEDLINE | ID: mdl-34443272
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Texte intégral: 1 Collection: 01-internacional Base de données: MEDLINE Langue: En Journal: Materials (Basel) Année: 2021 Type de document: Article Pays d'affiliation: Suisse Pays de publication: Suisse
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