Refractive index dispersion measurement in the short-wave infrared range using synthetic phase microscopy.

Nyakuchena, Melisa; Juntunen, Cory; Shea, Peter; Sung, Yongjin

Nyakuchena, Melisa; Juntunen, Cory; Shea, Peter; Sung, Yongjin.

Affiliation

Nyakuchena M; University of Wisconsin-Milwaukee, 3200 N Cramer St, Milwaukee, WI, USA. ysung4@uwm.edu.
Juntunen C; University of Wisconsin-Milwaukee, 3200 N Cramer St, Milwaukee, WI, USA. ysung4@uwm.edu.
Shea P; University of Wisconsin-Milwaukee, 3200 N Cramer St, Milwaukee, WI, USA. ysung4@uwm.edu.
Sung Y; University of Wisconsin-Milwaukee, 3200 N Cramer St, Milwaukee, WI, USA. ysung4@uwm.edu.

Phys Chem Chem Phys ; 25(34): 23141-23149, 2023 Aug 30.

Article de En | MEDLINE | ID: mdl-37603384

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Texte intégral: 1 Collection: 01-internacional Base de données: MEDLINE Langue: En Journal: Phys Chem Chem Phys Sujet du journal: BIOFISICA / QUIMICA Année: 2023 Type de document: Article Pays d'affiliation: États-Unis d'Amérique Pays de publication: Royaume-Uni

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