Note: micro-cantilevers with AlN actuators and PtSi tips for multi-frequency atomic force microscopy. | Rev Sci Instrum;83(9): 096107, 2012 Sep. | MEDLINE

Conteúdo principal 1 Busca 2 Rodapé 3

+A A -A Alto contraste

Portal Regional da BVS

Informação e Conhecimento para a Saúde

Localizar descritor de assunto Busca Avançada EVID@Easy

Note: micro-cantilevers with AlN actuators and PtSi tips for multi-frequency atomic force microscopy.

Sebastian, Abu; Shamsudhin, Naveen; Rothuizen, Hugo; Drechsler, Ute; Koelmans, Wabe W; Bhaskaran, Harish; Quenzer, Hans Joachim; Wagner, Bernhard; Despont, Michel.

Afiliação

Sebastian A; IBM Research-Zurich, 8803 Rüschlikon, Switzerland. ase@zurich.ibm.com

Rev Sci Instrum ; 83(9): 096107, 2012 Sep.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23020434

Buscar no Google

Adicionar na Minha BVS

Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article País de afiliação: Suíça País de publicação: Estados Unidos

Buscar no Google

Adicionar na Minha BVS

Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article País de afiliação: Suíça País de publicação: Estados Unidos