Conductive probe AFM measurements of conjugated molecular wires.

Ishida, Takao; Mizutani, Wataru; Liang, Tien-Tzu; Azehara, Hiroaki; Miyake, Koji; Sasaki, Shinya; Tokumoto, Hiroshi

Ishida, Takao; Mizutani, Wataru; Liang, Tien-Tzu; Azehara, Hiroaki; Miyake, Koji; Sasaki, Shinya; Tokumoto, Hiroshi.

Afiliação

Ishida T; Institute of Mechanical Systems Engineering, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, Tsukuba, Ibaraki, Japan. t-ishida@aist.go.jp

Ann N Y Acad Sci ; 1006: 164-86, 2003 Dec.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-14976017

Assuntos

Instalação Elétrica/instrumentação; Análise de Falha de Equipamento/instrumentação; Análise de Falha de Equipamento/métodos; Microscopia de Força Atômica/instrumentação; Microscopia de Força Atômica/métodos; Sondas Moleculares/química; Nanotecnologia/instrumentação; Transdutores; Condutividade Elétrica; Nanotecnologia/métodos; Propriedades de Superfície

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Evaluation_studies Idioma: En Ano de publicação: 2003 Tipo de documento: Article

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