Composition fluctuations in dilute nitride (Ga,In)(N,As)/GaAs heterostructures measured by low-loss electron energy-loss spectroscopy.

Kong, X; Trampert, A; Ploog, K H.

Afiliação

Kong X; Paul-Drude-Institut für Festkörperelektronik, Hausvogteiplatz 5-7, D-10117 Berlin, Germany. xkong@pdi-berlin.de

Micron ; 37(5): 465-72, 2006.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-16386909

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2006 Tipo de documento: Article

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