Composition profiling of inhomogeneous SiGe nanostructures by Raman spectroscopy.

Picco, Andrea; Bonera, Emiliano; Pezzoli, Fabio; Grilli, Emanuele; Schmidt, Oliver G; Isa, Fabio; Cecchi, Stefano; Guzzi, Mario

Picco, Andrea; Bonera, Emiliano; Pezzoli, Fabio; Grilli, Emanuele; Schmidt, Oliver G; Isa, Fabio; Cecchi, Stefano; Guzzi, Mario.

Afiliação

Picco A; L-NESS, Dipartimento di Scienza dei Materiali, Università degli Studi di Milano-Bicocca, via Cozzi 53, Milan 20125, Italy. emiliano.bonera@unimib.it.

Nanoscale Res Lett ; 7(1): 633, 2012 Nov 21.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23171543

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https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3534003
https://dx.doi.org/10.1186/1556-276X-7-633

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article

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