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A simple way to obtain backscattered electron images in a scanning transmission electron microscope.
Tsuruta, Hiroki; Tanaka, Shigeyasu; Tanji, Takayoshi; Morita, Chiaki.
Afiliação
  • Tsuruta H; Department of Electronics.
  • Tanaka S; Ecotopia Science Institute, Nagoya University, Furo-cho, Chikusa-ku, Nagoya 464-8603, Japan s-tanaka@esi.nagoya-u.ac.jp.
  • Tanji T; Ecotopia Science Institute, Nagoya University, Furo-cho, Chikusa-ku, Nagoya 464-8603, Japan.
  • Morita C; Department of Electrical and Electronic Engineering, Meijo University, 1-501 Shiogamaguchi, Tempaku-ku, Nagoya 468-8502, Japan.
Microscopy (Oxf) ; 63(4): 333-6, 2014 Aug.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24842882
Palavras-chave
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article
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