Identification of a defect in a semiconductor: EL2 in GaAs.
Phys Rev B Condens Matter
; 34(10): 7192-7202, 1986 Nov 15.
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em En
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| ID: mdl-9939375
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Tipo de estudo:
Diagnostic_studies
Idioma:
En
Ano de publicação:
1986
Tipo de documento:
Article