Sub-Angstrom high-resolution transmission electron microscopy at 300 keV.

O'Keefe, M A; Hetherington, C J; Wang, Y C; Nelson, E C; Turner, J H; Kisielowski, C; Malm, J O; Mueller, R; Ringnalda, J; Pan, M; Thust, A.

O'Keefe MA; Materials Science Division, National Center for Electron Microscopy, Lawrence Berkeley National Laboratory, Berkeley, CA 94720, USA. maok@lbl.gov

Ultramicroscopy ; 89(4): 215-41, 2001 Nov.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-11766980

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Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Año: 2001 Tipo del documento: Article

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