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New approach for the dynamical simulation of CBED patterns in heavily strained specimens.
Houdellier, F; Altibelli, A; Roucau, C; Casanove, M J.
  • Houdellier F; CEMES, CNRS, Toulouse Cedex 4, France. florent@cemes.fr
Ultramicroscopy ; 108(5): 426-32, 2008 Apr.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-17624670
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Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Año: 2008 Tipo del documento: Article
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