Subpixel microscopic deformation analysis using correlation and artificial neural networks.

Pitter, M; See, C W; Somekh, M.

Opt Express ; 8(6): 322-7, 2001 Mar 12.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-19417822

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Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Año: 2001 Tipo del documento: Article

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