Scanning gate microscopy of quantum rings: effects of an external magnetic field and of charged defects.

Pala, M G; Baltazar, S; Martins, F; Hackens, B; Sellier, H; Ouisse, T; Bayot, V; Huant, S.

Pala MG; IMEP-LAHC, Grenoble INP Minatec, BP 257, F-38016 Grenoble, France. pala@minatec.inpg.fr

Nanotechnology ; 20(26): 264021, 2009 Jul 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-19509453

Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Año: 2009 Tipo del documento: Article

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