Evidence of space charge regions within semiconductor nanowires from Kelvin probe force microscopy. | Nanotechnology;20(46): 465705, 2009 Nov 18. | MEDLINE

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Evidence of space charge regions within semiconductor nanowires from Kelvin probe force microscopy.

Narváez, Angela C; Chiaramonte, Thalita; Vicaro, Klaus O; Clerici, João H; Cotta, Mônica A.

Narváez AC; Departamento de Física Aplicada, Instituto de Física Gleb Wataghin, UNICAMP CP 6165, CEP 13083-970, Campinas, SP, Brazil.

Nanotechnology ; 20(46): 465705, 2009 Nov 18.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-19843990

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Qualitative_research Idioma: En Año: 2009 Tipo del documento: Article

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