Phase characterization of the reflection on an extreme UV multilayer: comparison between attosecond metrology and standing wave measurements. | Opt Lett;36(17): 3386-8, 2011 Sep 01. | MEDLINE

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Phase characterization of the reflection on an extreme UV multilayer: comparison between attosecond metrology and standing wave measurements.

Loch, R A; Dubrouil, A; Sobierajski, R; Descamps, D; Fabre, B; Lidon, P; van de Kruijs, R W E; Boekhout, F; Gullikson, E; Gaudin, J; Louis, E; Bijkerk, F; Mével, E; Petit, S; Constant, E; Mairesse, Y.

Loch RA; FOM Institute for Plasma Physics Rijnhuizen, Nieuwegein, The Netherlands. r.a.loch@rijnhuizen.nl

Opt Lett ; 36(17): 3386-8, 2011 Sep 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-21886219

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Año: 2011 Tipo del documento: Article

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