Evaluation of metal-nanowire electrical contacts by measuring contact end resistance.

Park, Hongsik; Beresford, Roderic; Ha, Ryong; Choi, Heon-Jin; Shin, Hyunjung; Xu, Jimmy.

Park H; School of Engineering, Brown University, Providence, RI 02912, USA. hpark@us.ibm.com

Nanotechnology ; 23(24): 245201, 2012 Jun 22.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-22641224

Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Año: 2012 Tipo del documento: Article

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