Fast frequency sweeping in resonance-tracking SPM for high-resolution AFAM and PFM imaging.

Enriquez-Flores, C I; Gervacio-Arciniega, J J; Cruz-Valeriano, E; de Urquijo-Ventura, P; Gutierrez-Salazar, B J; Espinoza-Beltran, F J

Enriquez-Flores, C I; Gervacio-Arciniega, J J; Cruz-Valeriano, E; de Urquijo-Ventura, P; Gutierrez-Salazar, B J; Espinoza-Beltran, F J.

Enriquez-Flores CI; CINVESTAV Unidad Querétaro, Lib. Norponiente 2000, Real de Juriquilla, 76230 Querétaro, Qro., Mexico. cenriquez@qro.cinvestav.mx

Nanotechnology ; 23(49): 495705, 2012 Dec 14.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23149480

Asunto(s)

Aumento de la Imagen/instrumentación; Sistemas Microelectromecánicos/instrumentación; Microscopía Acústica/instrumentación; Microscopía de Fuerza Atómica/instrumentación; Microscopía de Sonda de Barrido/instrumentación; Diseño de Equipo; Análisis de Falla de Equipo

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Aumento de la Imagen / Microscopía de Fuerza Atómica / Microscopía de Sonda de Barrido / Microscopía Acústica / Sistemas Microelectromecánicos Idioma: En Año: 2012 Tipo del documento: Article

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