Negative attachment cognitions and emotional distress in mainland Chinese adolescents: a prospective multiwave test of vulnerability-stress and stress generation models.

Cohen, Joseph R; Hankin, Benjamin L; Gibb, Brandon E; Hammen, Constance; Hazel, Nicholas A; Ma, Denise; Yao, Shuqiao; Zhu, Xiong Zhao; Abela, John R Z

Cohen, Joseph R; Hankin, Benjamin L; Gibb, Brandon E; Hammen, Constance; Hazel, Nicholas A; Ma, Denise; Yao, Shuqiao; Zhu, Xiong Zhao; Abela, John R Z.

Cohen JR; Department of Psychology, Rutgers University, 53 Avenue E, Piscataway, NJ 08854-8040, USA. jocohen@eden.rutgers.edu

J Clin Child Adolesc Psychol ; 42(4): 531-44, 2013.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23237030

Asunto(s)

Adaptación Psicológica; Cognición; Apego a Objetos; Estrés Psicológico/diagnóstico; Adolescente; Ansiedad/diagnóstico; Ansiedad/psicología; Pueblo Asiatico/psicología; China; Depresión/diagnóstico; Depresión/psicología; Emociones; Femenino; Humanos; Acontecimientos que Cambian la Vida; Masculino; Modelos Psicológicos; Estudios Prospectivos; Escalas de Valoración Psiquiátrica; Autoinforme; Estrés Psicológico/psicología; Encuestas y Cuestionarios

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Estrés Psicológico / Adaptación Psicológica / Cognición / Apego a Objetos Tipo de estudio: Diagnostic_studies / Observational_studies / Prognostic_studies / Risk_factors_studies Límite: Adolescent / Female / Humans / Male País como asunto: Asia Idioma: En Año: 2013 Tipo del documento: Article

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