Demonstration of Silicon-on-insulator mid-infrared spectrometers operating at 3.8 µm.
Opt Express
; 21(10): 11659-69, 2013 May 20.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-23736389
Texto completo:
1
Banco de datos:
MEDLINE
Asunto principal:
Refractometría
/
Silicio
/
Espectrofotometría Infrarroja
/
Resonancia por Plasmón de Superficie
Idioma:
En
Año:
2013
Tipo del documento:
Article