Materials processing routes to trap-free halide perovskites.

Buin, Andrei; Pietsch, Patrick; Xu, Jixian; Voznyy, Oleksandr; Ip, Alexander H; Comin, Riccardo; Sargent, Edward H.

Buin A; Department of Electrical and Computer Engineering, The University of Toronto , Toronto, ON M5S 3G4, Canada.

Nano Lett ; 14(11): 6281-6, 2014 Nov 12.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-25296282

Palabras clave

Perovskite; defect; diffusion length; electronic traps; growth; precursor

Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Año: 2014 Tipo del documento: Article

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