Fabrication of electron beam deposited tip for atomic-scale atomic force microscopy in liquid.

Miyazawa, K; Izumi, H; Watanabe-Nakayama, T; Asakawa, H; Fukuma, T.

Miyazawa K; Division of Electrical Engineering and Computer Science, Kanazawa University, Kakuma-machi, Kanazawa 920-1192, Japan.

Nanotechnology ; 26(10): 105707, 2015 Mar 13.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-25697199

Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Año: 2015 Tipo del documento: Article

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