High-Resolution, Highly-Integrated Traction Force Microscopy Software.

Mittal, Nikhil; Han, Sangyoon J

Mittal, Nikhil; Han, Sangyoon J.

Mittal N; Department of Biomedical Engineering, Michigan Technological University, Houghton, Michigan.
Han SJ; Department of Biomedical Engineering, Michigan Technological University, Houghton, Michigan.

Curr Protoc ; 1(9): e233, 2021 Sep.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-34491632

Asunto(s)

Algoritmos; Tracción; Simulación por Computador; Microscopía de Fuerza Atómica; Programas Informáticos

Palabras clave

L1-regularization; L2-regularization; fast boundary element method (FastBEM); focal adhesions (FAs); particle tracking velocimetry; traction force microscopy (TFM)

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Tracción / Algoritmos Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Año: 2021 Tipo del documento: Article

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