On the use of ionization cross sections in analytical electron microscopy.

Williams, D B; Newbury, D E; Goldstein, J I; Fiori, C E.

J Microsc ; 136(Pt 2): 209-18, 1984 Nov.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-6512856

Asunto(s)

Microanálisis por Sonda Electrónica/métodos; Iones; Matemática

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Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Microanálisis por Sonda Electrónica Idioma: En Año: 1984 Tipo del documento: Article

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