Precision Measurement of Electroweak Effects in e+e---> micro+ micro- at sqrt s =29 GeV.
Phys Rev Lett
; 55(18): 1831-1834, 1985 Oct 28.
Article
em En
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| ID: mdl-10031938
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Idioma:
En
Ano de publicação:
1985
Tipo de documento:
Article