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Longitudinal sampling and aliasing in spiral CT.
Yen, S Y; Yan, C H; Rubin, G D; Napel, S.
Afiliação
  • Yen SY; Department of Electrical Engineering, Stanford University, Stanford, CA 94305, USA.
IEEE Trans Med Imaging ; 18(1): 43-58, 1999 Jan.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-10193696
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Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Tomografia Computadorizada por Raios X Tipo de estudo: Prognostic_studies / Risk_factors_studies Idioma: En Ano de publicação: 1999 Tipo de documento: Article
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Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Tomografia Computadorizada por Raios X Tipo de estudo: Prognostic_studies / Risk_factors_studies Idioma: En Ano de publicação: 1999 Tipo de documento: Article