Development of multipurpose laboratory XIEES spectrometer and its application to surface XAFS analysis of Al2O3 films.

Lee, J C; Song, S A; Yuryev, Y; Terada, Y; Nakai, I; Lim, C B.

Afiliação

Lee JC; TCS Center, Samsung Advanced Institute of Technology, Suwon, Korea. cheol@sait.samsung.co.kr

J Synchrotron Radiat ; 8(Pt 2): 360-2, 2001 Mar 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-11512780

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Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2001 Tipo de documento: Article

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