Four-dimensional dielectric property image obtained from electron spectroscopic imaging series.

Lo, S C; Kai, J J; Chen, F R; Chang, L; Chen, L C; Chiang, C C; Ding, P; Chin, B; Zhang, H; Chen, F.

Afiliação

Lo SC; Department of Engineering and System Science, National Tsing-Hua University HsinChu, Taiwan. d877110@oz.nthu.edu.tw

J Electron Microsc (Tokyo) ; 50(6): 497-507, 2001.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-11918416

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Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2001 Tipo de documento: Article

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