Probing the spatial distribution and morphology of supported nanoparticles using rutherford-scattered electron imaging.

Midgley, Paul A; Weyland, Matthew; Thomas, John Meurig; Gai, Pratibha L; Boyes, Edward D.

Afiliação

Midgley PA; Department of Materials Science and Metallurgy, University of Cambridge, UK. pam33@cam.ac.uk

Angew Chem Int Ed Engl ; 41(20): 3804-7, 2002 Oct 18.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-12386853

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Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2002 Tipo de documento: Article

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