Carbon-13 labeling for improved tracer depth profiling of organic materials using secondary ion mass spectrometry.

Harton, S E; Stevie, F A; Ade, H

Harton, S E; Stevie, F A; Ade, H.

Afiliação

Harton SE; Department of Materials Science and Engineering, North Carolina State University, Raleigh, North Carolina, USA.
Stevie FA; Analytical Instrumentation Facility, North Carolina State University, Raleigh, North Carolina, USA.
Ade H; Department of Physics, North Carolina State University, 27695, Raleigh, NC, USA. harald_ade@ncsu.edu.

J Am Soc Mass Spectrom ; 17(8): 1142-1145, 2006 Aug.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-16731000

Assuntos

Isótopos de Carbono/química; Marcação por Isótopo/métodos; Compostos Orgânicos/química; Polimetil Metacrilato/química; Poliestirenos/química; Espectrometria de Massas por Ionização por Electrospray/métodos; Reprodutibilidade dos Testes; Sensibilidade e Especificidade

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Compostos Orgânicos / Poliestirenos / Isótopos de Carbono / Polimetil Metacrilato / Espectrometria de Massas por Ionização por Electrospray / Marcação por Isótopo Tipo de estudo: Diagnostic_studies / Prognostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2006 Tipo de documento: Article

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