Application of the focused ion beam technique in aerosol science: detailed investigation of selected, airborne particles.

Kaegi, R; Gasser, Ph

Kaegi, R; Gasser, Ph.

Afiliação

Kaegi R; Empa, Materials Science and Technology, Ueberlandstrasse 129, CH-8600 Dübendorf, Switzerland. ralf.kaegi@eawag.ch

J Microsc ; 224(Pt 2): 140-5, 2006 Nov.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-17204060

Assuntos

Poluentes Atmosféricos/química; Poeira/análise; Processamento de Imagem Assistida por Computador; Íons/análise; Microscopia Eletrônica de Varredura; Tamanho da Partícula; Poluição do Ar/análise; Microanálise por Sonda Eletrônica; Monitoramento Ambiental/métodos; Processamento de Imagem Assistida por Computador/métodos; Ferro/análise; Microscopia Eletrônica de Varredura/instrumentação; Microscopia Eletrônica de Varredura/métodos; Níquel/análise

Buscar no Google

Imprimir

XML

PubMed Links

Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Tamanho da Partícula / Processamento de Imagem Assistida por Computador / Microscopia Eletrônica de Varredura / Poluentes Atmosféricos / Poeira / Íons Tipo de estudo: Evaluation_studies Idioma: En Ano de publicação: 2006 Tipo de documento: Article

Buscar no Google

Imprimir

XML

PubMed Links