Characterization of spectroscopic photoemission and low energy electron microscope using multipolarized soft x rays at BL17SU/SPring-8.

Guo, F Z; Muro, T; Matsushita, T; Wakita, T; Ohashi, H; Senba, Y; Kinoshita, T; Kobayashi, K; Saitoh, Y; Koshikawa, T; Yasue, T; Oura, M; Takeuchi, T; Shin, S

Guo, F Z; Muro, T; Matsushita, T; Wakita, T; Ohashi, H; Senba, Y; Kinoshita, T; Kobayashi, K; Saitoh, Y; Koshikawa, T; Yasue, T; Oura, M; Takeuchi, T; Shin, S.

Afiliação

Guo FZ; JASRI/SPring-8, Kouto 1-1-1, Sayo-cho, Sayo-gun, Hyogo 679-5198, Japan. fz-guo@spring8.or.jp

Rev Sci Instrum ; 78(6): 066107, 2007 Jun.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-17614651

Assuntos

Microscopia Eletrônica/instrumentação; Refratometria/instrumentação; Espectrometria por Raios X/instrumentação; Desenho de Equipamento; Análise de Falha de Equipamento; Microscopia Eletrônica/métodos; Refratometria/métodos; Reprodutibilidade dos Testes; Sensibilidade e Especificidade; Espectrometria por Raios X/métodos

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Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Refratometria / Espectrometria por Raios X / Microscopia Eletrônica Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2007 Tipo de documento: Article

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