Nanoscale surface electrical properties of zinc oxide films investigated by conducting atomic force microscopy.

Yu, Chang-Feng; Chen, Sy-Hann; Xie, Wen-Jia; Lin, Yung-Shao; Shen, Cheng-Yu; Tsai, Sheng-Jhong; Sung, Che-Wei; Ay, Chyung

Yu, Chang-Feng; Chen, Sy-Hann; Xie, Wen-Jia; Lin, Yung-Shao; Shen, Cheng-Yu; Tsai, Sheng-Jhong; Sung, Che-Wei; Ay, Chyung.

Afiliação

Yu CF; Department of Applied Physics, National Chiayi University, Chiayi 600, Taiwan, Republic of China.

Microsc Res Tech ; 71(1): 1-4, 2008 Jan.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-17726692

Assuntos

Eletroquímica/métodos; Microscopia de Força Atômica/métodos; Óxido de Zinco/química; Nanotecnologia/métodos; Propriedades de Superfície; Temperatura

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Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Óxido de Zinco / Microscopia de Força Atômica / Eletroquímica Idioma: En Ano de publicação: 2008 Tipo de documento: Article

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