Study of the nanoscopic deformation of an annealed nafion film by using atomic force microscopy and a patterned substrate.

Maeda, Yuta; Gao, Yanfeng; Nagai, Masayuki; Nakayama, Yosuke; Ichinose, Takuya; Kuroda, Reiko; Umemura, Kazuo.

Afiliação

Maeda Y; Graduate School of Energy Science and Nuclear Engineering, Musashi Institute of Technology, 1-28-1 Tamazutsumi, Setagaya, Tokyo 158-8557, Japan.

Ultramicroscopy ; 108(6): 529-35, 2008 May.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-17897784

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Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2008 Tipo de documento: Article

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