Control and characterization of the structural, electrical, and optical properties of amorphous zinc-indium-tin oxide thin films.

Buchholz, D Bruce; Liu, Jun; Marks, Tobin J; Zhang, Ming; Chang, Robert P H.

Afiliação

Buchholz DB; Department of Materials Science and Engineering and the Materials Research Center, Northwestern University, Evanston, Illinois 60208, USA.

ACS Appl Mater Interfaces ; 1(10): 2147-53, 2009 Oct.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-20355848

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article

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