Performance of a four-element Si drift detector for X-ray absorption fine-structure spectroscopy: resolution, maximum count rate, and dead-time correction with incorporation into the ATHENA data analysis software. | J Synchrotron Radiat;17(3): 409-13, 2010 May. | MEDLINE

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Performance of a four-element Si drift detector for X-ray absorption fine-structure spectroscopy: resolution, maximum count rate, and dead-time correction with incorporation into the ATHENA data analysis software.

Woicik, J C; Ravel, B; Fischer, D A; Newburgh, W J.

Afiliação

Woicik JC; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA. woicik@bnl.gov

J Synchrotron Radiat ; 17(3): 409-13, 2010 May.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-20400841

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2010 Tipo de documento: Article

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