Contact-free fault location and imaging with on-chip terahertz time-domain reflectometry.

Nagel, Michael; Michalski, Alexander; Kurz, Heinrich

Nagel, Michael; Michalski, Alexander; Kurz, Heinrich.

Afiliação

Nagel M; AMO GmbH, Otto-Blumenthal-Straße 25, 52074 Aachen, Germany. nagel@amo.de

Opt Express ; 19(13): 12509-14, 2011 Jun 20.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-21716491

Assuntos

Eletrônica; Microtecnologia/instrumentação; Microtecnologia/métodos; Imagem Terahertz/instrumentação; Imagem Terahertz/métodos; Computadores; Desenho de Equipamento; Análise de Falha de Equipamento/instrumentação; Análise de Falha de Equipamento/métodos; Semicondutores; Fatores de Tempo

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Eletrônica / Imagem Terahertz / Microtecnologia Idioma: En Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article

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