The importance of testing deep brain stimulation lead impedances before final lead implantation.

Nazzaro, Jules M; Lyons, Kelly E; Pahwa, Rajesh; Ridings, Larry W.

Afiliação

Nazzaro JM; Department of Neurosurgery, University of Kansas Medical Center, Kansas City, KS, USA.

Surg Neurol Int ; 2: 131, 2011.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-22059126

Palavras-chave

Complication avoidance; deep brain stimulation; external neurostimulator; impedance testing; intraoperative test stimulation

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article

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