Temporal cross-correlation of x-ray free electron and optical lasers using soft x-ray pulse induced transient reflectivity.

Krupin, O; Trigo, M; Schlotter, W F; Beye, M; Sorgenfrei, F; Turner, J J; Reis, D A; Gerken, N; Lee, S; Lee, W S; Hays, G; Acremann, Y; Abbey, B; Coffee, R; Messerschmidt, M; Hau-Riege, S P; Lapertot, G; Lüning, J; Heimann, P; Soufli, R; Fernández-Perea, M; Rowen, M; Holmes, M; Molodtsov, S L; Föhlisch, A; Wurth, W

Krupin, O; Trigo, M; Schlotter, W F; Beye, M; Sorgenfrei, F; Turner, J J; Reis, D A; Gerken, N; Lee, S; Lee, W S; Hays, G; Acremann, Y; Abbey, B; Coffee, R; Messerschmidt, M; Hau-Riege, S P; Lapertot, G; Lüning, J; Heimann, P; Soufli, R; Fernández-Perea, M; Rowen, M; Holmes, M; Molodtsov, S L; Föhlisch, A; Wurth, W.

Afiliação

Krupin O; LCLS, SLAC National Accelerator Laboratory, Menlo Park, CA 94025-7015, USA. oleg.krupin@xfel.eu

Opt Express ; 20(10): 11396-406, 2012 May 07.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-22565760

Assuntos

Óptica e Fotônica/métodos; Eletroquímica/métodos; Eletrônica; Elétrons; Desenho de Equipamento; Lasers; Fótons; Semicondutores; Fatores de Tempo; Raios X

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Óptica e Fotônica Idioma: En Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article

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