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Investigations on the catastrophic damage in multilayer dielectric films.
Liu, Xiaofeng; Zhao, Yuan'an; Gao, Yanqi; Li, Dawei; Hu, Guohang; Zhu, Meiping; Fan, Zhengxiu; Shao, Jianda.
Afiliação
  • Liu X; Key Laboratory of High Power Laser Materials, Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, Shanghai, China.
Appl Opt ; 52(10): 2194-9, 2013 Apr 01.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23545976

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article

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