Full-scale characterization of UVLED Al(x)Ga(1-x)N nanowires via advanced electron microscopy.

Phillips, Patrick J; Carnevale, Santino D; Kumar, Rajan; Myers, Roberto C; Klie, Robert F.

Afiliação

Phillips PJ; Department of Physics, University of Illinois at Chicago, 845 West Taylor Street, Chicago, Illinois 60607, USA. pjphil@uic.edu

ACS Nano ; 7(6): 5045-51, 2013 Jun 25.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23675609

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article

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