Statistical study of deep submicron dual-gated field-effect transistors on monolayer chemical vapor deposition molybdenum disulfide films.

Liu, Han; Si, Mengwei; Najmaei, Sina; Neal, Adam T; Du, Yuchen; Ajayan, Pulickel M; Lou, Jun; Ye, Peide D.

Afiliação

Liu H; School of Electrical and Computer Engineering and Birck Nanotechnology Center, Purdue University, West Lafayette, Indiana 47907, USA.

Nano Lett ; 13(6): 2640-6, 2013 Jun 12.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23679044

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article

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