Depth profiling of metal overlayers on organic substrates with cluster SIMS.
Anal Chem
; 85(21): 10565-72, 2013 Nov 05.
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em En
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| ID: mdl-24070427
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1
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Tipo de estudo:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Ano de publicação:
2013
Tipo de documento:
Article