Depth profiling of metal overlayers on organic substrates with cluster SIMS. | Anal Chem;85(21): 10565-72, 2013 Nov 05. | MEDLINE

Conteúdo principal 1 Busca 2 Rodapé 3

+A A -A Alto contraste

Secretaria de Estado da Saúde - BVS

Rede de Informação e Conhecimento

Localizar descritor de assunto Busca Avançada

Depth profiling of metal overlayers on organic substrates with cluster SIMS.

Shen, Kan; Mao, Dan; Garrison, Barbara J; Wucher, Andreas; Winograd, Nicholas.

Afiliação

Shen K; The Pennsylvania State University , Department of Chemistry, University Park, Pennsylvania 16802, United States.

Anal Chem ; 85(21): 10565-72, 2013 Nov 05.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24070427

Buscar no Google

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article

Buscar no Google

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article