Short-range six-axis interferometer controlled positioning for scanning probe microscopy.
Sensors (Basel)
; 14(1): 877-86, 2014 Jan 07.
Article
em En
| MEDLINE
| ID: mdl-24451463
Texto completo:
1
Base de dados:
MEDLINE
Idioma:
En
Ano de publicação:
2014
Tipo de documento:
Article